型號

美國J.A.Woollam公司

VB-400

主要規(guī)格

及技術指標

主要性能參數(shù)：  光譜范圍：250 ~ 1700 nm。 入射角：15 ~ 90°。  數(shù)據(jù)采樣速率：典型——0.1 ~ 3 s/nm；高精度模式——20 s/nm。

材料要求

主要功能

及應用范圍

主要性能參數(shù)：光譜范圍：250 ~ 1700 nm。 入射角：15 ~ 90°。  數(shù)據(jù)采樣速率：典型——0.1 ~ 3 s/nm；高精度模式——20 s/nm。   用途：基本應用：單、多薄膜折射率及膜厚測量，塊材的折射率測量；相位延遲測量。 擴展應用：表面粗糙，組分比、折射率梯度分布、膜面均勻性、光學各項異性測量。  

應用領域：半導體、光伏產(chǎn)業(yè)、平板顯示、存儲、生物、醫(yī)藥、化學、電化學、光學鍍膜和保護膜、減反膜、透明導電膜、聚合物膜、自組裝膜、光刻材料等。

測試項目

膜厚、折射率250 元/樣   反射率、透射率 250 元/樣

相位延遲 250 元/樣

（每個樣品取一個點；取多點按照多個樣品進行計算；多層膜測試請事先與老師聯(lián)系）