無機材料元素成分分析
我司擁有X射線光電子能譜（XPS），理學X射線衍射儀（XRD），帕納科X射線衍射儀（xrd），島津X射線熒光光譜（XRF)等設備，可對無機樣品成分和結構進行全方位分析
| 序號 | 類別 | 項目/參數 |
| 1 | X射線光電子能譜（XPS) | 可對樣品進行預處理（高真空、氮氣保護H2，空氣等不同氣氛的處理），原位的測定處理前后樣品的表面元素的分布及價態變化。 |
| 2 | 理學X射線衍射儀（XRD） | X射線發生器功率為3KW 測角儀最小步進為1/10000度 步長：0.02 掃速：4度/分 |
| 3 | 帕納科X射線衍射儀(XRD) | 功率：3Kw 測角儀重現性：0.0001度 發散度：<0.01度 最小步長<0.0001度 測角儀的精確度<0.0001度 |
| 4 | 島津X射線熒光光譜（XRF) | 可進行固體、粉末、液體等多種樣品的定性分析和無需工作曲線的FP法定量分析。 |