掃描探針顯微鏡（SPI3800N)
儀器名稱 | 掃描探針顯微鏡 (SPI3800N） |
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型號 | 日本精工 SPI3800N | |
主要規格 及技術指標 | 1. 分辨率：水平 0.1 nm，垂直0.01 nm | |
材料要求 | 二維原子薄膜、原子平整基底表面鍍膜的形貌表征和電、磁性能分析（長寬高控制在15 ╳ 15 ╳ 2 mm內） | |
主要功能 及應用范圍 | 目前全球商用的唯一一款真正專業級高真空環境控制型SPM， 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進行，可對測量的環境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學等）進行控制；可實現AFM、DFM、STM、MFM、EFM、KFM、C-AFM等功能，可連續變溫，溫度范圍：-120 - 800℃。 | |
測試項目 | AFM、DFM表面形貌分析 MFM、FFM、EFM、KFM測試等 I-V、Force-Curve測試 薄膜樣品和需要制樣的固體樣品 可測試-120 - 800℃溫度區間內的數據 | |
