JEM-2010高分辨透射電子顯微鏡（TEM）
儀器名稱 | JEM2010高分辨透射電子顯微鏡（TEM） |
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型號 | 日本電子 JEM-2010 | |||
主要規格 及技術指標 | 分辨率：點分辨率≤0.23nm，線分辨率=0.14nm 加速電壓：220kV放大倍率：50-150萬倍 最小束斑尺寸:TEM mode: 優于20nm EDS/NBD/CBD mode: 優于1.0nm | |||
主要功能 及應用范圍 | 1. 適應高分辨率、快速檢測和圖像分析等各種應用需求 2.空間分辨顯微ATR技術，可鑒別小到3微米的樣品微區域 3.高靈敏度液氮冷卻MCT檢測器，適用于微弱官能團檢測，特別適合原位表面吸附的測定 4. 配備原位吸附反應池，適合做吡啶吸附紅外光譜圖，CO，CO2表面吸附紅外光譜圖 | |||
測試項目 | 價格 | 備注 | ||
無機氧化物納米材料形貌觀察 | 180元/樣 | 含制樣、耗材，能譜+100元，電子衍射+100元 | ||
磁性無機氧化物納米材料形貌觀察 | 190元/樣 | 含制樣、耗材，電子衍射+150元，能譜+100元 | ||
磁性無機氧化物納米材料高分辨觀察 | 550元/樣 | 含制樣、耗材，電子衍射+150元，能譜+150元 | ||
金屬、陶瓷樣品離子減薄制樣 | 700元/樣 | 已預減到150微米以下 | ||
線掃 | 300元/樣 | 磁性樣品800元/樣 | ||
Mapping | 450元/樣 | 掃描時間3小時左右，如樣品掃描時間較長，按600元/小時計費，磁性樣品800元/小時 | ||
免費制樣為普通碳膜銅網，微柵銅網制樣+20元，超薄碳膜制樣+30元 | ||||
