場發射掃描電子顯微鏡 (Zeiss Merlin ）
儀器名稱 | 場發射掃描電子顯微鏡 (Zeiss Merlin ） |
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型號 | 德國蔡司 Merlin | ||
主要規格 及技術指標 | 1. 分辨率:高達 0.6 nm（STEM 模式） 2. 探針電流:高達 300 nA 3. 加速電壓：20 -30 kV | ||
材料要求 | 粉末、片狀樣品（長寬高控制在20*20*10mm內） | ||
主要功能 及應用范圍 | 主要功能：主要用于觀察、分析并記錄材料的微觀形貌特征，以及對材料組成與結構分析。主要體現在： 1．具有高、低真空兩種模式。 2．具有EDAX能譜與電子背散射衍射（EBSD）功能。 應用范圍：樣品的形貌分析、微區成份分析、微區取向、微觀織構分析、晶體結構分析、物相分析、實時三維表面形貌成像等。 | ||
測試項目 | 價格 | ||
非磁性樣品形貌觀察 | 140元/樣（含噴金） | ||
磁性樣品形貌觀察 | 190元/樣（含噴金） | ||
EDS | 100元/2點 | ||
非磁性樣品mapping | 200元/樣 | ||
磁性樣品mapping | 250元/樣 | ||
電子背散射衍射 （EBSD） | 600元/樣 | ||
噴金免費；鍍鉑 100 元/次；鍍碳 60 元/次。 | |||
